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飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件
可以用微电子器件插件和断面插件来扩展金相样品杯和降低荷电金相样品杯的功能。这类插件的设计,是为了更方便地在飞纳台式 扫描电镜(SEM)上观察特定种类的样品。借助插件样品也大幅提高了观察效率。
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飞纳电镜在观测植物样品中的优势
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飞纳电镜助力提升电池企业的检测能力
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Sievers分析仪应用于微电子行业
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飞纳电镜助你简单快速识别冬虫夏草真伪
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飞纳电镜在锂电池陶瓷涂布行业的应用
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Sievers分析仪应用于微电子行业
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飞纳扫描电镜发布孔径统计测量分析系统
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微电子元器件焊点微观观察
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飞纳台式扫描电镜在法医鉴定领域的应用
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